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- / 展會回顧｜2025年CIOE中國光博會圓滿收官
為期數(shù)日的第26屆中國國際光電博覽會（CIOE）在深圳圓滿落下帷幕。本屆展會盛況空前，匯聚了全球光電領域的頂尖技術與創(chuàng)新成果。我司與KLA聯(lián)合協(xié)辦的展臺，在真空鍍膜館的重裝亮相。憑借一系列高端、精密的表面測量與檢測解決方案，成功吸引了大量專業(yè)觀眾駐足交流，現(xiàn)場氣氛熱烈，成果豐碩，為此次展會之旅畫上了圓滿的句號。
優(yōu)尼康與KLA Instruments聯(lián)合展臺在本次光博會亮相，攜Filmetrics多臺膜厚儀、FilmSense橢偏儀、Zeta-20白光共聚焦、iMicro納米壓痕儀、D300臺階儀、Profilm3D 光學輪廓儀，憑借優(yōu)異的產(chǎn)品性能和客戶口碑，多位觀眾慕名而來，現(xiàn)場交流火熱，共同探討產(chǎn)品應用和技術細節(jié)！
聚焦于精密制造的核心檢測需求，重點展出了兩款明星產(chǎn)品：白光干涉三維輪廓儀與白光共聚焦三維輪廓儀。這兩款設備以其非接觸、高精度、高效率的獨特優(yōu)勢，成為了現(xiàn)場當之無愧的焦點。
優(yōu)尼康在現(xiàn)場
通過此次CIOE盛會，更深刻地感受到了市場對于高精度、智能化檢測設備日益增長的需求。我們與眾多新老朋友相聚，交流行業(yè)前沿趨勢，探討技術應用難點，每一場深入的對話都讓我們對未來充滿了信心。
展會雖已落幕，但創(chuàng)新與服務永不止步。我們將滿載客戶的信任與期待，持續(xù)深耕精密測量領域，不斷優(yōu)化產(chǎn)品性能，拓展應用邊界，以更先進的技術和更完善的解決方案，！
如果您有上述測量的需求，歡迎隨時來電，與我們進行深入溝通！
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